机型>>探测系统
扫描测头系列
提供最优的扫描性能 - 这是用户可以从Leitz X系列扫描测头所获得的。从Leitz LSP-X1到Leitz LSP-X3和Leitz LSP-X5,提供了不同尺寸、不同性能的扫描探测系统,均可以实现离散扫描、自定心测量以及高速扫描任务,实现快速的精确形状和轮廓的测量任务。

探测系统>>扫描测头系列产品

  • 扫描式探测系统
    高精度、高效率完成复杂形状测量的理想选择。配备旋转测座,为扫描测量提供了更大的灵活性;配备固定式测座,可支持超长与超重探针加长杆,为各种深孔的测量提供了便利。
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