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探测系统
接触与非接触、触发与扫描,利用各种类型的探测系统,可以完成形状各异的工件表面点的数据采集工作。海克斯康供应TESA、Leitz、Renishaw品牌的测座、测头、测针、测头更换架等。

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  • TESA触发测头
    TESASTAR系列触发测头包括了各种结构与方式,如实现手动分度的测座与测头一体化探测系统TESASTAR与TESASTAR-i,以及连接自动测座的TESASTAR-p和TESASTAR-mp。
  • Leitz扫描测头
    提供最优的扫描性能 - 这是用户可以从Leitz X系列扫描测头所获得的。从Leitz LSP-X1到Leitz LSP-X3和Leitz LSP-X5,提供了不同尺寸、不同性能的扫描探测系统,均可以实现离散扫描、自定心测量以及高速扫描任务,实现快速的精确形状和轮廓的测量任务。
  • 非接触测头
    非接触光学影像以及激光扫描探测系统,以更快速的手段、更便捷的方法实现复杂形状和特征的测量
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